עמיתים מהמכון

• .B.Sc הנדסת חשמל טכניון חיפה 1982
• .M.Sc הנדסת חשמל אוניברסיטת ת"א 1986
• .Ph.D הנדסת חשמל אוניברסיטת ת"א 1990

• מיקרוסקופיה אקוסטית
• אלקטרואופטיקה
• הוראה מרחוק באמצעות תקשורת מחשבים, מידענות
• התקני גלי שטח אקוסטיים
• מיקרואלקרוניקה בשכבות דקות.

במרכז לחינוך טכנולוגי משנת 1991

• מיתוג ותכנון לוגי
• מל"מ א' ו-ב'
• מעגלים מוכללים
• מעגלים אלקטרוניים לינאריים

באוניברסיטת תל-אביב משנת 1987

• מיתוג ותכנון לוגי
• מל"מ א' ו-ב'
• מעגלים מוכללים
• מעגלים אלקטרוניים לינאריים
  

• א. בר-לב, ג. גולן
  "מוליכים למחצה" - 20402, קורס אקדמי במחלקה לפיסיקה של האוניברסיטה הפתוחה.
  הקורס מתבסס על ספרו האנגלי של א. בר-לב בהוצאת Prentice Hall, ספטמבר 1996.
  The course is based on the English version of "Semiconductors and Electronic Devices" of Prof. A. Bar-Lev, February 1998 (1993).
• א. בר-לב, ג. גולן
  "התקני מוליכים למחצה ומיקרואלקטרוניקה" - 20403, קורס אקדמי במחלקה לפיסיקה של האוניברסיטה הפתוחה.
  הקורס מתבסס על ספרו האנגלי של א. בר-לב בהוצאת Prentice Hall. פברואר 1998. בעריכה סופית
  The course is based on the English version of "Semiconductors and Electronic Devices" of Prof. A. Bar-Lev, February 1998 (1993).

1. G. Golan, A. Kenyon, G. Griffel, C.W. Pitt
   "Thermo-Acoustic effects on images for high resolution scanning acoustic microscopy", Electronic Letters, 30:127-128, (1994).
2. G. Golan, A. Kenyon, G. Griffel, C.W. Pitt
   "Thermal effects in scanning acoustic microscopy for fine resolution applications", IEEE Transactions on Ultrasonics Ferroelectrics and Frequency Control UFFC-441, No.4, 565-568, (1994).
3. G. Golan, A. Axelevich, E. Rabinovitch
   "Modified magnetic controlled plasma sputtering method", Vacuum, 47, No.9, 1081-1083, (1996).
4. G. Golan, A. Axelevich, E. Rabinovitch
   "Bilayer structure of Pd-Al2O3 for U.V. vidicon applications", Thin Solid Films, 283, 235-238, (1996).
5. G. Golan, C.W. Pitt
   "Novel imaging methods in scanning acoustic microscopy", Applied Surface Science, 106, 491-497, (1996).
6. G. Golan, S. Amirhaghi, C.W. Pitt
   "Piezoelectric coefficients in wide gap II-VI semiconductors", Properties of wide bandgap II-VI semiconductors Edited by R. Bhargava, Electronic Materials Information Service (EMIS) of IEE, An INSPEC publication, 23-26, (1996).
7. I. Grav, G. Griffel, Y. Daou, G. Golan
   "Structural and dynamic analysis of ultra short intracavity directional coupler", Journal of the European Optical Society Part A: Pure and Applied Optics 6, 61-66, (1997).
8. G. Golan, A. Axelevitch
   "Ring etching zones on magnetron sputtering targets", Thin Solid Films, 300, 72-77, (1997).
9. G. Golan, E. Rabinovitch, A. Axelevitch, L. Klibanov, A. Seidman, N. Croitoru
   "Microhardness analysis of diamond like carbon films", Diamond Films and Technology 7, No.4, NYU Tokyo, 257-266, (1997).
10. R. Aviv, G. Golan
    "Pedagogical communication patterns in telelearning", Journal of Educational Technology Systems, 26, No.3, 201-8, (1998).
11. G. Golan, A. Axelevitch, E. Rabinovitch
    "A linear model application for the design of transparent conductive In2O3 coatings", Microelectronics Journal, 29, 689-694, Elsevier Science, (1998).
12. A. Wyler, G. Golan
    "Scanning acoustic microscopy investigation of melted collagen in thermoplastic leather", Journal of Materials Research, 14, No. 6, 2446-2448, (1999).
13. G. Golan, A. Axelevitch, E. Rabinovitch
    "General technological modeling for the design of transparent conductive In 2O3 electrodes", Journal of Vacuum Society and Technology (JVST-A), (1998) accepted for publication.
14. G. Golan, E.Rabinovich, A. Inberg, A. Axelevitch, M. Oksman, Y. Rosenwaks, Kozlovsky, P.J. Rancoita, M. Rattaggi, A. Seidman, N. Croitoru,
    "Dislocations Structure Investigation In Neutron Irradiated Silicon Detectors Using AFM and Microhardness measurements", accepted for publication in Microelectronics Reliability, Microelectronics Reliability, issue 40:1 (January 2000), July 7th, (1999).